casa / productos / Sensores, Transductores / Medidores de deformación / MMF001917
Número de pieza del fabricante | MMF001917 |
---|---|
Número de parte futuro | FT-MMF001917 |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | * |
MMF001917 Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Active |
tipo de patrón | - |
Rango de deformación | - |
Resistencia | - |
Tolerancia de resistencia | - |
Longitud - Activa | - |
Longitud - Patrón general | - |
Longitud total | - |
Ancho - Activo | - |
Ancho - Patrón general | - |
Ancho - general | - |
Temperatura de funcionamiento | - |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MMF001917 Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | MMF001917-FT |
MMF003189
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF003166
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF003153
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF003141
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF003129
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF003110
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF003096
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF003672
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF003074
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
A3PE3000-2PQG208
Microsemi Corporation
A42MX16-2VQ100
Microsemi Corporation
EP4CE6F17I8LN
Intel
5SGSMD3E3H29I3L
Intel
10AX032H2F35I2LG
Intel
XC7VX1140T-1FLG1926C
Xilinx Inc.
A40MX04-1PQG100I
Microsemi Corporation
LFE3-35EA-7LFN672C
Lattice Semiconductor Corporation
10AX090R2F40E2SG
Intel
10AX115R1F40I1SG
Intel