casa / productos / Sensores, Transductores / Sensores ópticos - fotoeléctricos, industriales / WSE27-3N1130
Número de pieza del fabricante | WSE27-3N1130 |
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Número de parte futuro | FT-WSE27-3N1130 |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | W27-3 |
WSE27-3N1130 Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Active |
Método de detección | Through-Beam |
Distancia de detección | 1377.953" (35m) |
Suministro de voltaje | 10V ~ 30V |
Tiempo de respuesta | 500µs |
Configuración de salida | NPN |
Método de conexión | Cable |
Protección de ingreso | IP66 |
Longitud del cable | 78.74" (2m) |
Fuente de luz | Red (645nm) |
Tipo de ajuste | - |
Temperatura de funcionamiento | -40°C ~ 60°C (TA) |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
WSE27-3N1130 Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | WSE27-3N1130-FT |
WLG4-3P2182
SICK, Inc.
WLG4S-3E1134H
SICK, Inc.
WLG4S-3E1134V
SICK, Inc.
WLG4S-3E1135V
SICK, Inc.
WLG4S-3E1334S03
SICK, Inc.
WLG4S-3F2234
SICK, Inc.
WLG4S-3F2234V
SICK, Inc.
WLG4S-3F2235V
SICK, Inc.
WLG4S-3F2434V
SICK, Inc.
WLG4S-3F3132
SICK, Inc.
A54SX16A-1FG144I
Microsemi Corporation
AX1000-1FGG484I
Microsemi Corporation
EP3SL70F484I4
Intel
EP3C5F256A7N
Intel
EP4CE15M9C7N
Intel
XC4VFX20-11FFG672I
Xilinx Inc.
AX1000-1FGG676
Microsemi Corporation
LFE2-35E-7FN484C
Lattice Semiconductor Corporation
10M08DAU324I7G
Intel
5AGTFD7H3F35I5N
Intel