casa / productos / Sensores, Transductores / Sensores ópticos - Fototransistores / TEST2600
Número de pieza del fabricante | TEST2600 |
---|---|
Número de parte futuro | FT-TEST2600 |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | * |
TEST2600 Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Active |
Voltaje - Desglose del emisor del colector (máx.) | 70V |
Corriente - Colector (Ic) (Max) | 50mA |
Actual - Oscuro (Id) (Max) | 100nA |
Longitud de onda | 950nm |
Ángulo de visión | 120° |
Potencia - max | 100mW |
Tipo de montaje | Through Hole |
Orientación | Universal |
Temperatura de funcionamiento | -40°C ~ 85°C (TA) |
Paquete / Caja | Radial, Side View |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
TEST2600 Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | TEST2600-FT |
VEMT3700-GS08
Vishay Semiconductor Opto Division
VEMT2023X01
Vishay Semiconductor Opto Division
VEMT2020X01
Vishay Semiconductor Opto Division
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Vishay Semiconductor Opto Division
TEMT7100X01
Vishay Semiconductor Opto Division
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Vishay Semiconductor Opto Division
TEMT7000X01
Vishay Semiconductor Opto Division
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Vishay Semiconductor Opto Division
RPT-37PB3FN
Rohm Semiconductor
SML-810TBT86
Rohm Semiconductor
APA1000-PQG208A
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Microsemi Corporation
EP3C40U484C7N
Intel
5SGXEA4K2F35I3LN
Intel
XC4005XL-2PC84I
Xilinx Inc.
XC7A200T-1FB484C
Xilinx Inc.
LFE2-20SE-7FN672C
Lattice Semiconductor Corporation
LFXP2-8E-5MN132C
Lattice Semiconductor Corporation
5AGXMA5G4F31C4N
Intel