casa / productos / Circuitos integrados (ICs) / Lógica - Lógica Especializada / SN74BCT8374ANT
Número de pieza del fabricante | SN74BCT8374ANT |
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Número de parte futuro | FT-SN74BCT8374ANT |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | 74BCT |
SN74BCT8374ANT Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Obsolete |
Tipo logico | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
Voltaje de alimentación | 4.5V ~ 5.5V |
Número de bits | 8 |
Temperatura de funcionamiento | 0°C ~ 70°C |
Tipo de montaje | Through Hole |
Paquete / Caja | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
Paquete del dispositivo del proveedor | 24-PDIP |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74BCT8374ANT Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | SN74BCT8374ANT-FT |
SN74LVC161284DLR
Texas Instruments
SN74LV161284DL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADLG4
Texas Instruments
SN74ABTE16246DLG4
Texas Instruments
SN74ABTE16245DLG4
Texas Instruments
74LVCE161284DLRG4
Texas Instruments
SN74ABTE16245DLR
Texas Instruments
SN74ABTE16246DLR
Texas Instruments
SN74LVCE161284DLR
Texas Instruments
EP1C3T144I7N
Intel
XA2S150E-6FT256I
Xilinx Inc.
XC6SLX150-3FGG676C
Xilinx Inc.
A3PN060-VQG100
Microsemi Corporation
AT40K10-2RQC
Microchip Technology
5SGXMB5R2F43I3LN
Intel
XC5VLX50-2FFG324C
Xilinx Inc.
LCMXO3L-1300E-6MG121C
Lattice Semiconductor Corporation
EP4CE75F29C6N
Intel
EP20K1000EBC652-3
Intel