casa / productos / Circuitos integrados (ICs) / Lógica - Lógica Especializada / SN74BCT8374ANT
Número de pieza del fabricante | SN74BCT8374ANT |
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Número de parte futuro | FT-SN74BCT8374ANT |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | 74BCT |
SN74BCT8374ANT Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Obsolete |
Tipo logico | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
Voltaje de alimentación | 4.5V ~ 5.5V |
Número de bits | 8 |
Temperatura de funcionamiento | 0°C ~ 70°C |
Tipo de montaje | Through Hole |
Paquete / Caja | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
Paquete del dispositivo del proveedor | 24-PDIP |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74BCT8374ANT Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | SN74BCT8374ANT-FT |
SN74LVC161284DLR
Texas Instruments
SN74LV161284DL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADLG4
Texas Instruments
SN74ABTE16246DLG4
Texas Instruments
SN74ABTE16245DLG4
Texas Instruments
74LVCE161284DLRG4
Texas Instruments
SN74ABTE16245DLR
Texas Instruments
SN74ABTE16246DLR
Texas Instruments
SN74LVCE161284DLR
Texas Instruments
AGLN020V2-QNG68
Microsemi Corporation
XC4005XL-1VQ100I
Xilinx Inc.
AFS1500-2FG256I
Microsemi Corporation
LCMXO2-256HC-4SG32I
Lattice Semiconductor Corporation
A40MX04-PL44M
Microsemi Corporation
XC6VLX130T-1FF784C
Xilinx Inc.
XC6VLX75T-2FFG784C
Xilinx Inc.
A54SX16A-1TQ100M
Microsemi Corporation
LFE3-70EA-7LFN1156C
Lattice Semiconductor Corporation
EP4CGX22CF19C8
Intel