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Texas Instruments SN74BCT8374ADWR

Name: SN74BCT8374ADWR
Brand: Texas Instruments
SKU: SN74BCT8374ADWR
Availability: InStock
Rating: 4.7 (457 reviews)

Número de pieza de MFG: SN74BCT8374ADWR

Cantidad disponible: 16190 Piezas

Precio de referencia: USD 0

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Fecha de envío: Podemos enviar hoy

fabricante: Texas Instruments

Breve descripción: 74BCT IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Estado sin plomo / estado RoHS: Cumple con RoHS (sin plomo)

Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL): 1 (ilimitado)

Código de fecha (D / C): Nuevo

categoria de producto: Lógica - Lógica Especializada

Recurso de stock: Distribuidor Franquiciado

Garantía: Garantía de calidad de 360 días.

ficha de datos: SN74BCT8374ADWR.pdf

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SN74BCT8374ADWR Presupuesto

Número de pieza del fabricante	SN74BCT8374ADWR
Número de parte futuro	FT-SN74BCT8374ADWR
SPQ / MOQ	Contáctenos
Material de empaque	Reel/Tray/Tube/Others
serie	74BCT
SN74BCT8374ADWR Estado (ciclo de vida)	En stock
Estado de la pieza	Obsolete
Tipo logico	Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Voltaje de alimentación	4.5V ~ 5.5V
Número de bits	8
Temperatura de funcionamiento	0°C ~ 70°C
Tipo de montaje	Surface Mount
Paquete / Caja	24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Paquete del dispositivo del proveedor	24-SOIC
País de origen	USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN
SN74BCT8374ADWR Peso	Contáctenos
Número de pieza de repuesto	SN74BCT8374ADWR-FT

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