casa / productos / Circuitos integrados (ICs) / Lógica - Lógica Especializada / SN74BCT8373ANT
Número de pieza del fabricante | SN74BCT8373ANT |
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Número de parte futuro | FT-SN74BCT8373ANT |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | 74BCT |
SN74BCT8373ANT Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Obsolete |
Tipo logico | Scan Test Device with D-Type Latches |
Voltaje de alimentación | 4.5V ~ 5.5V |
Número de bits | 8 |
Temperatura de funcionamiento | 0°C ~ 70°C |
Tipo de montaje | Through Hole |
Paquete / Caja | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
Paquete del dispositivo del proveedor | 24-PDIP |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74BCT8373ANT Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | SN74BCT8373ANT-FT |
SN74ABTE16246DL
Texas Instruments
SN74LVC161284DLR
Texas Instruments
SN74LV161284DL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADLG4
Texas Instruments
SN74ABTE16246DLG4
Texas Instruments
SN74ABTE16245DLG4
Texas Instruments
74LVCE161284DLRG4
Texas Instruments
SN74ABTE16245DLR
Texas Instruments
SN74ABTE16246DLR
Texas Instruments
A54SX32A-FG144M
Microsemi Corporation
EP2C8F256C8N
Intel
5SGXMA7K3F40C4
Intel
10M02SCU169I7G
Intel
XC7VX485T-1FFG1930I
Xilinx Inc.
M7A3P1000-2FGG144I
Microsemi Corporation
LCMXO3L-1300E-6MG121I
Lattice Semiconductor Corporation
10AX066K3F35I2SGES
Intel
10AX090S1F45I1SG
Intel
EP4CE115F29C9LN
Intel