casa / productos / Circuitos integrados (ICs) / Lógica - Lógica Especializada / SN74BCT8373ANT
Número de pieza del fabricante | SN74BCT8373ANT |
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Número de parte futuro | FT-SN74BCT8373ANT |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | 74BCT |
SN74BCT8373ANT Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Obsolete |
Tipo logico | Scan Test Device with D-Type Latches |
Voltaje de alimentación | 4.5V ~ 5.5V |
Número de bits | 8 |
Temperatura de funcionamiento | 0°C ~ 70°C |
Tipo de montaje | Through Hole |
Paquete / Caja | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
Paquete del dispositivo del proveedor | 24-PDIP |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74BCT8373ANT Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | SN74BCT8373ANT-FT |
SN74ABTE16246DL
Texas Instruments
SN74LVC161284DLR
Texas Instruments
SN74LV161284DL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADLG4
Texas Instruments
SN74ABTE16246DLG4
Texas Instruments
SN74ABTE16245DLG4
Texas Instruments
74LVCE161284DLRG4
Texas Instruments
SN74ABTE16245DLR
Texas Instruments
SN74ABTE16246DLR
Texas Instruments
XCV50E-7FG256I
Xilinx Inc.
APA150-FGG256I
Microsemi Corporation
A3PN060-1VQ100
Microsemi Corporation
EP1M120F484I6
Intel
5SGXEA5N2F40I3L
Intel
5SGXEA9N3F45I3N
Intel
XC6VLX130T-1FFG1156C
Xilinx Inc.
A42MX09-PQG160I
Microsemi Corporation
5CEFA4U19C6N
Intel
EP20K300ERC240-1X
Intel