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Texas Instruments SN74BCT8373ADWR

Número de pieza de MFG
SN74BCT8373ADWR
Cantidad disponible
14310 Piezas
Precio de referencia
USD 0
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Fecha de envío
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fabricante
Texas Instruments
Breve descripción
74BCT IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
Estado sin plomo / estado RoHS
Cumple con RoHS (sin plomo)
Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL)
1 (ilimitado)
Código de fecha (D / C)
Nuevo
categoria de producto
Lógica - Lógica Especializada
Recurso de stock
Distribuidor Franquiciado
Garantía
Garantía de calidad de 360 días.
ficha de datos
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Número de pieza del fabricante SN74BCT8373ADWR
Número de parte futuro FT-SN74BCT8373ADWR
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Material de empaque Reel/Tray/Tube/Others
serie 74BCT
SN74BCT8373ADWR Estado (ciclo de vida) En stock
Estado de la pieza Obsolete
Tipo logico Scan Test Device with D-Type Latches
Voltaje de alimentación 4.5V ~ 5.5V
Número de bits 8
Temperatura de funcionamiento 0°C ~ 70°C
Tipo de montaje Surface Mount
Paquete / Caja 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Paquete del dispositivo del proveedor 24-SOIC
País de origen USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN
SN74BCT8373ADWR Peso Contáctenos
Número de pieza de repuesto SN74BCT8373ADWR-FT

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