casa / productos / Circuitos integrados (ICs) / Lógica - Lógica Especializada / SN74BCT8373ADWR
Número de pieza del fabricante | SN74BCT8373ADWR |
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Número de parte futuro | FT-SN74BCT8373ADWR |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | 74BCT |
SN74BCT8373ADWR Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Obsolete |
Tipo logico | Scan Test Device with D-Type Latches |
Voltaje de alimentación | 4.5V ~ 5.5V |
Número de bits | 8 |
Temperatura de funcionamiento | 0°C ~ 70°C |
Tipo de montaje | Surface Mount |
Paquete / Caja | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
Paquete del dispositivo del proveedor | 24-SOIC |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74BCT8373ADWR Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | SN74BCT8373ADWR-FT |
SSTV16857CGT
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTV16857DGG,112
NXP USA Inc.
SSTV16857DGG,118
NXP USA Inc.
SSTV16857DGG,512
NXP USA Inc.
SSTV16857DGG,518
NXP USA Inc.
SSTV16857DGV,112
NXP USA Inc.
SSTV16857DGV,118
NXP USA Inc.
SSTVA16857AG
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTVA16857AGLF
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTVA16857AGLFT
IDT, Integrated Device Technology Inc
EX64-TQG100
Microsemi Corporation
EP1SGX25CF672C5N
Intel
EP4CE55F23C9LN
Intel
EP1K50FC484-2N
Intel
5SGXEABK2H40C2L
Intel
XC7VX485T-2FFG1158I
Xilinx Inc.
XC7A200T-1FFG1156I
Xilinx Inc.
LFE2M50E-6FN900I
Lattice Semiconductor Corporation
LFE2-20SE-6FN484C
Lattice Semiconductor Corporation
EP1S25F780C5
Intel