casa / productos / Circuitos integrados (ICs) / Lógica - Lógica Especializada / SN74BCT8373ADWR
Número de pieza del fabricante | SN74BCT8373ADWR |
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Número de parte futuro | FT-SN74BCT8373ADWR |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | 74BCT |
SN74BCT8373ADWR Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Obsolete |
Tipo logico | Scan Test Device with D-Type Latches |
Voltaje de alimentación | 4.5V ~ 5.5V |
Número de bits | 8 |
Temperatura de funcionamiento | 0°C ~ 70°C |
Tipo de montaje | Surface Mount |
Paquete / Caja | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
Paquete del dispositivo del proveedor | 24-SOIC |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74BCT8373ADWR Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | SN74BCT8373ADWR-FT |
SSTV16857CGT
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTV16857DGG,112
NXP USA Inc.
SSTV16857DGG,118
NXP USA Inc.
SSTV16857DGG,512
NXP USA Inc.
SSTV16857DGG,518
NXP USA Inc.
SSTV16857DGV,112
NXP USA Inc.
SSTV16857DGV,118
NXP USA Inc.
SSTVA16857AG
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTVA16857AGLF
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTVA16857AGLFT
IDT, Integrated Device Technology Inc
XC4005E-3TQ144I
Xilinx Inc.
EP1C3T144C8
Intel
XC2S200-6FGG256C
Xilinx Inc.
APA300-FG256A
Microsemi Corporation
5SGXEB6R1F43C2LN
Intel
A42MX24-1PL84M
Microsemi Corporation
A42MX09-3PQ160I
Microsemi Corporation
LFE2M20SE-6FN484I
Lattice Semiconductor Corporation
LFE2-35SE-5FN484I
Lattice Semiconductor Corporation
LFE5U-12F-7BG256C
Lattice Semiconductor Corporation