casa / productos / Circuitos integrados (ICs) / Lógica - Lógica Especializada / SN74ABT8646DWR
Número de pieza del fabricante | SN74ABT8646DWR |
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Número de parte futuro | FT-SN74ABT8646DWR |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | 74ABT |
SN74ABT8646DWR Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Obsolete |
Tipo logico | Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers |
Voltaje de alimentación | 4.5V ~ 5.5V |
Número de bits | 8 |
Temperatura de funcionamiento | -40°C ~ 85°C |
Tipo de montaje | Surface Mount |
Paquete / Caja | 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
Paquete del dispositivo del proveedor | 28-SOIC |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74ABT8646DWR Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | SN74ABT8646DWR-FT |
SY10EL16VFZC
Microchip Technology
SY10EL16VFZC TR
Microchip Technology
SY10EL16VFZG
Microchip Technology
SY10EL16VFZG TR
Microchip Technology
SY10EL16VFZI
Microchip Technology
SY10EL16VFZI-TR
Microchip Technology
SY10EL16VZC
Microchip Technology
SY10EL16VZC-TR
Microchip Technology
SY10EL16VZG
Microchip Technology
SY10EL16VZG-TR
Microchip Technology
XC4010-5PQ208C
Xilinx Inc.
M7AFS600-2FGG484I
Microsemi Corporation
ICE5LP4K-CM36ITR1K
Lattice Semiconductor Corporation
EP4CE40F23C6N
Intel
5SGSMD6K1F40C2LN
Intel
EP3C5E144I7
Intel
XC7K420T-2FFG1156I
Xilinx Inc.
A40MX04-PQ100I
Microsemi Corporation
LFE3-17EA-7MG328I
Lattice Semiconductor Corporation
EPF6024AQC208-1
Intel