casa / productos / Protección del circuito / Fusibles Restaurables PTC / PTCCL05H271DTE
Número de pieza del fabricante | PTCCL05H271DTE |
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Número de parte futuro | FT-PTCCL05H271DTE |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | PTCCL |
PTCCL05H271DTE Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Obsolete |
Tipo | Ceramic |
Voltaje - Máx. | 30V |
Actual - max | 2.5A |
Corriente - Mantener (Ih) (Max) | 270mA |
Corriente - Viaje (It) | 405mA |
Tiempo de viaje | - |
Resistencia - Inicial (Ri) (Min) | - |
Resistencia - Post viaje (R1) (Max) | - |
Resistencia - 25 ° C (Tipo) | 6 Ohms |
Temperatura de funcionamiento | -40°C ~ 85°C |
Calificaciones | - |
Tipo de montaje | Through Hole |
Paquete / Caja | Radial, Disc |
Tamaño / Dimensión | 0.197" Dia x 0.157" T (5.00mm x 4.00mm) |
Altura - Sentado (Max) | 0.394" (10.00mm) |
Espesor (Max) | - |
Espaciamiento del plomo | 0.197" (5.00mm) |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
PTCCL05H271DTE Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | PTCCL05H271DTE-FT |
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Xilinx Inc.
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M1AGL1000V5-FGG256I
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A1415A-1VQG100I
Microsemi Corporation
A3PN125-ZVQG100I
Microsemi Corporation
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5SGXEA4K3F40C2N
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LFE3-150EA-8FN672C
Lattice Semiconductor Corporation
5SGXEA3H3F35I3N
Intel