casa / productos / Circuitos integrados (ICs) / Adquisición de datos - Potenciómetros digitales / N57M5114VP2D50TG
Número de pieza del fabricante | N57M5114VP2D50TG |
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Número de parte futuro | FT-N57M5114VP2D50TG |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | - |
N57M5114VP2D50TG Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Active |
Cirio | Linear |
Configuración | Potentiometer |
Número de circuitos | 1 |
Número de grifos | 32 |
Resistencia (Ohms) | 50k |
Interfaz | Up/Down (U/D, INC, CS) |
Tipo de memoria | Non-Volatile |
Suministro de voltaje | 2.5V ~ 6V |
Caracteristicas | - |
Tolerancia | ±20% |
Coeficiente de temperatura (tipo) | 300 ppm/°C |
Resistencia - Limpiaparabrisas (Ohms) (Tipo) | 150 |
Temperatura de funcionamiento | 150°C (TJ) |
Paquete / Caja | 8-WFDFN Exposed Pad |
Paquete del dispositivo del proveedor | 8-TDFN (2x3) |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
N57M5114VP2D50TG Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | N57M5114VP2D50TG-FT |
CAT5112VI-10-G
ON Semiconductor
CAT5112VI-50-G
ON Semiconductor
CAT5112VI-50-T3
ON Semiconductor
CAT5112VI00
ON Semiconductor
CAT5112VI10
ON Semiconductor
CAT5112VI50
ON Semiconductor
CAT5112YI-00-T3
ON Semiconductor
CAT5112YI-10-G
ON Semiconductor
CAT5112YI-10-T3
ON Semiconductor
CAT5112YI-50-T3
ON Semiconductor
EP1K30TC144-2
Intel
LFEC3E-3T100C
Lattice Semiconductor Corporation
A3P250L-FG256
Microsemi Corporation
10M25SCE144I7G
Intel
5SGXMA4H2F35C2LN
Intel
XC4044XL-3HQ208C
Xilinx Inc.
XC7VX980T-1FFG1926C
Xilinx Inc.
XC4VFX40-10FFG672I
Xilinx Inc.
LCMXO3LF-9400C-5BG256I
Lattice Semiconductor Corporation
EPF10K30RC208-3N
Intel