casa / productos / Circuitos integrados (ICs) / Adquisición de datos - Potenciómetros digitales / N57L5125TBD10TG
Número de pieza del fabricante | N57L5125TBD10TG |
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Número de parte futuro | FT-N57L5125TBD10TG |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | - |
N57L5125TBD10TG Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Active |
Cirio | Linear |
Configuración | Potentiometer |
Número de circuitos | 1 |
Número de grifos | 32 |
Resistencia (Ohms) | 10k |
Interfaz | Up/Down (U/D, CS) |
Tipo de memoria | - |
Suministro de voltaje | 2.7V ~ 5.5V |
Caracteristicas | - |
Tolerancia | - |
Coeficiente de temperatura (tipo) | 30 ppm/°C |
Resistencia - Limpiaparabrisas (Ohms) (Tipo) | 80 |
Temperatura de funcionamiento | -40°C ~ 85°C |
Paquete / Caja | SOT-23-6 |
Paquete del dispositivo del proveedor | SOT-23-6 |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
N57L5125TBD10TG Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | N57L5125TBD10TG-FT |
CAT5111YI00
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LFEC3E-5T144C
Lattice Semiconductor Corporation
M2GL050TS-1VFG400I
Microsemi Corporation
10AX048H4F34I3LG
Intel
EP3C25E144A7N
Intel
XC5VSX50T-1FF665C
Xilinx Inc.
XC4VFX60-11FFG672C
Xilinx Inc.
XC6SLX25-L1CSG324I
Xilinx Inc.
LCMXO2280C-3FTN324I
Lattice Semiconductor Corporation
EP4CE40F29C6N
Intel
EP20K300EQC240-3
Intel