casa / productos / Circuitos integrados (ICs) / Adquisición de datos - Potenciómetros digitales / N57L5125TBD00TG
Número de pieza del fabricante | N57L5125TBD00TG |
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Número de parte futuro | FT-N57L5125TBD00TG |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | - |
N57L5125TBD00TG Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Active |
Cirio | Linear |
Configuración | Potentiometer |
Número de circuitos | 1 |
Número de grifos | 32 |
Resistencia (Ohms) | 100k |
Interfaz | Up/Down (U/D, CS) |
Tipo de memoria | - |
Suministro de voltaje | 2.7V ~ 5.5V |
Caracteristicas | - |
Tolerancia | - |
Coeficiente de temperatura (tipo) | 30 ppm/°C |
Resistencia - Limpiaparabrisas (Ohms) (Tipo) | 80 |
Temperatura de funcionamiento | -40°C ~ 85°C |
Paquete / Caja | SOT-23-6 |
Paquete del dispositivo del proveedor | SOT-23-6 |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
N57L5125TBD00TG Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | N57L5125TBD00TG-FT |
CAT5111YI-50-T3
ON Semiconductor
CAT5111YI00
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XC3S50AN-4TQ144I
Xilinx Inc.
LFE2-12SE-6TN144C
Lattice Semiconductor Corporation
XC3S200A-5FG320C
Xilinx Inc.
XC2V6000-6FFG1517C
Xilinx Inc.
M2GL010-1FGG484
Microsemi Corporation
EP3SL200H780I4L
Intel
5SEEBF45C2L
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5SGXEA5N2F45C1N
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EP4SE820H35C3
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