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Número de pieza del fabricante | MLP2012H2R2MT |
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Número de parte futuro | FT-MLP2012H2R2MT |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | MLP |
MLP2012H2R2MT Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Active |
Tipo | Multilayer |
Material - Núcleo | Ferrite |
Inductancia | 2.2µH |
Tolerancia | ±20% |
Valoración actual | 1A |
Corriente - Saturación | - |
Blindaje | Shielded |
Resistencia DC (DCR) | 195 mOhm Max |
Q @ Freq | - |
Frecuencia - Auto-resonante | - |
Calificaciones | - |
Temperatura de funcionamiento | -40°C ~ 125°C |
Frecuencia de Inductancia - Prueba | 2MHz |
Caracteristicas | - |
Tipo de montaje | Surface Mount |
Paquete / Caja | 0805 (2012 Metric) |
Paquete del dispositivo del proveedor | 0805 (2012 Metric) |
Tamaño / Dimensión | 0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm) |
Altura - Sentado (Max) | 0.039" (1.00mm) |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MLP2012H2R2MT Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | MLP2012H2R2MT-FT |
MLZ2012DR22MT000
TDK Corporation
MLZ2012DR47MT000
TDK Corporation
MLZ2012E100M
TDK Corporation
MLZ2012E4R7M
TDK Corporation
MLP2520S3R3ST0S1
TDK Corporation
MLP2520S100MT0S1
TDK Corporation
MLP2520S100ST0S1
TDK Corporation
MLP2520H1R0MT0S1
TDK Corporation
MLP2520H1R0ST0S1
TDK Corporation
MLP2520H3R3MT0S1
TDK Corporation
XC2S150-6FG456C
Xilinx Inc.
XC2VP7-6FG456C
Xilinx Inc.
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5SGXEBBR2H43C2N
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Lattice Semiconductor Corporation
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Lattice Semiconductor Corporation
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