casa / productos / Sensores, Transductores / Sensores magnéticos - interruptores (estado sólido / HAL103TQ-I
Número de pieza del fabricante | HAL103TQ-I |
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Número de parte futuro | FT-HAL103TQ-I |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | HAL® |
HAL103TQ-I Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Last Time Buy |
Función | Latch |
Tecnología | Hall Effect |
Polarización | South Pole |
Rango de detección | 11.5mT Trip, -11.5mT Release |
Condición de prueba | 25°C |
Suministro de voltaje | 3.8V ~ 24V |
Corriente - Suministro (Máx.) | 5.2mA |
Corriente - Salida (Max) | 50mA |
Tipo de salida | Open Drain |
Caracteristicas | Temperature Compensated |
Temperatura de funcionamiento | -20°C ~ 125°C (TA) |
Paquete / Caja | TO-243AA, Variant |
Paquete del dispositivo del proveedor | SOT-89B-3 |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
HAL103TQ-I Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | HAL103TQ-I-FT |
DRV5023BIELPGQ1
Texas Instruments
DRV5023BIQLPGQ1
Texas Instruments
TSH190CT B0G
Taiwan Semiconductor Corporation
TSH193CT B0G
Taiwan Semiconductor Corporation
TSH181CT B0G
Taiwan Semiconductor Corporation
TSH188CT B0G
Taiwan Semiconductor Corporation
TSH251CT B0G
Taiwan Semiconductor Corporation
TSH481CT B0G
Taiwan Semiconductor Corporation
TSH253CT B0G
Taiwan Semiconductor Corporation
TSH282CT B0G
Taiwan Semiconductor Corporation
XC4005XL-2TQ144C
Xilinx Inc.
XC2S15-6VQ100C
Xilinx Inc.
A3P1000-FGG484M
Microsemi Corporation
A54SX72A-1CQ256M
Microsemi Corporation
LFE5UM-25F-8BG381I
Lattice Semiconductor Corporation
10M04DAF256A7G
Intel
5SGXMABN2F45I3N
Intel
EP4SGX290KF43I3
Intel
XC5VLX85T-2FF1136I
Xilinx Inc.
EP4CGX110DF31C7
Intel