casa / productos / Resistencias / Resistencias de orificio pasante / H495R3BZA
Número de pieza del fabricante | H495R3BZA |
---|---|
Número de parte futuro | FT-H495R3BZA |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | Holco, Holsworthy |
H495R3BZA Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Active |
Resistencia | 95.3 Ohms |
Tolerancia | ±0.1% |
Potencia (vatios) | 0.5W, 1/2W |
Composición | Metal Film |
Caracteristicas | Pulse Withstanding |
Coeficiente de temperatura | ±100ppm/°C |
Temperatura de funcionamiento | -55°C ~ 155°C |
Paquete / Caja | Axial |
Paquete del dispositivo del proveedor | Axial |
Tamaño / Dimensión | 0.146" Dia x 0.394" L (3.70mm x 10.00mm) |
Altura - Sentado (Max) | - |
Número de terminaciones | 2 |
Tasa de fracaso | - |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
H495R3BZA Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | H495R3BZA-FT |
H89K09BCA
TE Connectivity Passive Product
H89K09BDA
TE Connectivity Passive Product
H89K09BYA
TE Connectivity Passive Product
H89K09BZA
TE Connectivity Passive Product
H89K09DCA
TE Connectivity Passive Product
H89K09DYA
TE Connectivity Passive Product
H89K09DZA
TE Connectivity Passive Product
H89K1FCA
TE Connectivity Passive Product
H89K1FDA
TE Connectivity Passive Product
H89K1FYA
TE Connectivity Passive Product
A1020B-PQG100I
Microsemi Corporation
XC2V2000-4FGG676I
Xilinx Inc.
XC7A100T-1FG484C
Xilinx Inc.
EP3SE110F1152C2
Intel
XC5VLX110T-2FFG1738I
Xilinx Inc.
XC7VX1140T-G2FLG1930E
Xilinx Inc.
AGL1000V2-CS281I
Microsemi Corporation
LFEC6E-4QN208I
Lattice Semiconductor Corporation
LFE2-12E-6FN256I
Lattice Semiconductor Corporation
EPF81500AQC240-2
Intel