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Número de pieza del fabricante | GSE6-N4212 |
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Número de parte futuro | FT-GSE6-N4212 |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | G6 |
GSE6-N4212 Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Active |
Método de detección | Through-Beam |
Distancia de detección | 393.701" (10m) |
Suministro de voltaje | 10V ~ 30V |
Tiempo de respuesta | 500µs |
Configuración de salida | NPN |
Método de conexión | Connector, M8 |
Protección de ingreso | IP67 |
Longitud del cable | - |
Fuente de luz | Red (650nm) |
Tipo de ajuste | Adjustable, Potentiometer |
Temperatura de funcionamiento | -25°C ~ 55°C (TA) |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
GSE6-N4212 Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | GSE6-N4212-FT |
GRTE18-N2462
SICK, Inc.
GRTE18-N2467
SICK, Inc.
GRTE18-P1112
SICK, Inc.
GRTE18-P1117
SICK, Inc.
GRTE18-P1142
SICK, Inc.
GRTE18-P1147
SICK, Inc.
GRTE18-P1162
SICK, Inc.
GRTE18-P1167
SICK, Inc.
GRTE18-P2412
SICK, Inc.
GRTE18-P2417
SICK, Inc.
ICE40LP1K-SWG16TR
Lattice Semiconductor Corporation
LCMXO2-1200ZE-1UWG25ITR
Lattice Semiconductor Corporation
AGLN060V5-VQ100
Microsemi Corporation
5SGSMD3E2H29C2LN
Intel
XC2VP2-6FF672C
Xilinx Inc.
XC2VP50-5FFG1152I
Xilinx Inc.
A54SX16A-FGG144I
Microsemi Corporation
LFX200EB-03FN256I
Lattice Semiconductor Corporation
EP2AGX190EF29I3
Intel
10AX048E2F29E1HG
Intel