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Número de pieza del fabricante | GSE6-N1212 |
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Número de parte futuro | FT-GSE6-N1212 |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | G6 |
GSE6-N1212 Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Active |
Método de detección | Through-Beam |
Distancia de detección | 590.551" (15m) |
Suministro de voltaje | 10V ~ 30V |
Tiempo de respuesta | 500µs |
Configuración de salida | NPN |
Método de conexión | Cable |
Protección de ingreso | IP67 |
Longitud del cable | 78.74" (2m) |
Fuente de luz | Red (650nm) |
Tipo de ajuste | Adjustable, Potentiometer |
Temperatura de funcionamiento | -25°C ~ 55°C (TA) |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
GSE6-N1212 Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | GSE6-N1212-FT |
GRTE18-N1167
SICK, Inc.
GRTE18-N2412
SICK, Inc.
GRTE18-N2417
SICK, Inc.
GRTE18-N2442
SICK, Inc.
GRTE18-N2447
SICK, Inc.
GRTE18-N2462
SICK, Inc.
GRTE18-N2467
SICK, Inc.
GRTE18-P1112
SICK, Inc.
GRTE18-P1117
SICK, Inc.
GRTE18-P1142
SICK, Inc.
XCS30-3TQ144C
Xilinx Inc.
A42MX36-1BG272I
Microsemi Corporation
LCMXO3LF-6900C-5BG400I
Lattice Semiconductor Corporation
A3PN060-VQ100I
Microsemi Corporation
5SGXEA7K2F40I3
Intel
XC5VLX220T-1FF1738I
Xilinx Inc.
A42MX09-FTQG176
Microsemi Corporation
LFE2M50SE-7FN484C
Lattice Semiconductor Corporation
5CGXBC7C6F23C7N
Intel
EP4SGX110HF35I4N
Intel