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Número de pieza del fabricante | GSE6-N1112 |
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Número de parte futuro | FT-GSE6-N1112 |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | G6 |
GSE6-N1112 Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Active |
Método de detección | Through-Beam |
Distancia de detección | 0.394" (10mm) |
Suministro de voltaje | 10V ~ 30V |
Tiempo de respuesta | 200µs |
Configuración de salida | NPN - Dark-ON/Light-ON |
Método de conexión | Cable |
Protección de ingreso | IP67, IP69K |
Longitud del cable | 78.74" (2m) |
Fuente de luz | Red (650nm) |
Tipo de ajuste | Adjustable, Potentiometer |
Temperatura de funcionamiento | -10°C ~ 50°C (TA) |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
GSE6-N1112 Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | GSE6-N1112-FT |
GRTE18-N1142
SICK, Inc.
GRTE18-N1147
SICK, Inc.
GRTE18-N1162
SICK, Inc.
GRTE18-N1167
SICK, Inc.
GRTE18-N2412
SICK, Inc.
GRTE18-N2417
SICK, Inc.
GRTE18-N2442
SICK, Inc.
GRTE18-N2447
SICK, Inc.
GRTE18-N2462
SICK, Inc.
GRTE18-N2467
SICK, Inc.
A54SX16A-1FG144I
Microsemi Corporation
AX1000-1FGG484I
Microsemi Corporation
EP3SL70F484I4
Intel
EP3C5F256A7N
Intel
EP4CE15M9C7N
Intel
XC4VFX20-11FFG672I
Xilinx Inc.
AX1000-1FGG676
Microsemi Corporation
LFE2-35E-7FN484C
Lattice Semiconductor Corporation
10M08DAU324I7G
Intel
5AGTFD7H3F35I5N
Intel