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Número de pieza del fabricante | GSE10-N1112 |
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Número de parte futuro | FT-GSE10-N1112 |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | G10 |
GSE10-N1112 Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Active |
Método de detección | Through-Beam |
Distancia de detección | 1574.803" (40m) |
Suministro de voltaje | 10V ~ 30V |
Tiempo de respuesta | 500µs |
Configuración de salida | NPN |
Método de conexión | Cable |
Protección de ingreso | IP67 |
Longitud del cable | 78.74" (2m) |
Fuente de luz | Red (625nm) |
Tipo de ajuste | - |
Temperatura de funcionamiento | -30°C ~ 60°C (TA) |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
GSE10-N1112 Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | GSE10-N1112-FT |
GRSE18S-P1122
SICK, Inc.
GRSE18S-P1127
SICK, Inc.
GRSE18S-P1142
SICK, Inc.
GRSE18S-P1147
SICK, Inc.
GRSE18S-P1336
SICK, Inc.
GRSE18S-P133Y
SICK, Inc.
GRSE18S-P2331
SICK, Inc.
GRSE18S-P2336
SICK, Inc.
GRSE18S-P2338
SICK, Inc.
GRSE18S-P233W
SICK, Inc.
XCS30-3TQ144C
Xilinx Inc.
A42MX36-1BG272I
Microsemi Corporation
LCMXO3LF-6900C-5BG400I
Lattice Semiconductor Corporation
A3PN060-VQ100I
Microsemi Corporation
5SGXEA7K2F40I3
Intel
XC5VLX220T-1FF1738I
Xilinx Inc.
A42MX09-FTQG176
Microsemi Corporation
LFE2M50SE-7FN484C
Lattice Semiconductor Corporation
5CGXBC7C6F23C7N
Intel
EP4SGX110HF35I4N
Intel