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Número de pieza del fabricante | GRSE18-N1127 |
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Número de parte futuro | FT-GRSE18-N1127 |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | GR18 |
GRSE18-N1127 Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Active |
Método de detección | Through-Beam |
Distancia de detección | 590.551" (15m) |
Suministro de voltaje | 10V ~ 30V |
Tiempo de respuesta | 500µs |
Configuración de salida | NPN |
Método de conexión | Cable |
Protección de ingreso | IP67 |
Longitud del cable | 78.74" (2m) |
Fuente de luz | Infrared (880nm) |
Tipo de ajuste | Adjustable, Potentiometer |
Temperatura de funcionamiento | -25°C ~ 55°C (TA) |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
GRSE18-N1127 Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | GRSE18-N1127-FT |
GL10G-P4252
SICK, Inc.
GL6-F4311
SICK, Inc.
GL6-F7511
SICK, Inc.
GL6-N1111
SICK, Inc.
GL6-N1112
SICK, Inc.
GL6-N1211
SICK, Inc.
GL6-N1212
SICK, Inc.
GL6-N4112
SICK, Inc.
GL6-N4211
SICK, Inc.
GL6-N4212
SICK, Inc.
XC2V3000-4FGG676I
Xilinx Inc.
XC3S250E-4PQ208I
Xilinx Inc.
EP3C55U484C7
Intel
EP4CGX150CF23I7
Intel
XC4028EX-3HQ208C
Xilinx Inc.
XC2VP20-6FF1152C
Xilinx Inc.
M1AGL250V2-FG144I
Microsemi Corporation
LFE2M50SE-6FN672I
Lattice Semiconductor Corporation
LCMXO2-4000HE-5FG484C
Lattice Semiconductor Corporation
5CEFA5F23I7N
Intel