casa / productos / Sensores, Transductores / Sensores magnéticos - interruptores (estado sólido / BU52273NUZ-ZE2
Número de pieza del fabricante | BU52273NUZ-ZE2 |
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Número de parte futuro | FT-BU52273NUZ-ZE2 |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | - |
BU52273NUZ-ZE2 Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Active |
Función | Omnipolar Switch |
Tecnología | Hall Effect |
Polarización | Either |
Rango de detección | ±5.1mT Trip, ±2.3mT Release |
Condición de prueba | 25°C |
Suministro de voltaje | 1.65V ~ 3.6V |
Corriente - Suministro (Máx.) | 8µA |
Corriente - Salida (Max) | 500µA |
Tipo de salida | CMOS |
Caracteristicas | - |
Temperatura de funcionamiento | -40°C ~ 85°C |
Paquete / Caja | 4-XFDFN Exposed Pad |
Paquete del dispositivo del proveedor | - |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
BU52273NUZ-ZE2 Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | BU52273NUZ-ZE2-FT |
S-5712BCDH2-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5716ACDL2-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5725HCBH1-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5725JCBH0-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACDH1-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACDH2-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACDL1-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACDL2-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACNH1-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACNL1-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
XA6SLX75-3CSG484I
Xilinx Inc.
M2GL005-1VFG256I
Microsemi Corporation
MPF300T-FCG484E
Microsemi Corporation
A3P030-VQG100
Microsemi Corporation
5SGXEB5R2F43I2N
Intel
XC4010E-2PC84C
Xilinx Inc.
XC7VX690T-2FFG1927I
Xilinx Inc.
A42MX09-3TQ176I
Microsemi Corporation
LFXP2-40E-5F484C
Lattice Semiconductor Corporation
EP1C6Q240C8
Intel