casa / productos / Sensores, Transductores / Sensores magnéticos - interruptores (estado sólido / BU52273NUZ-ZE2
Número de pieza del fabricante | BU52273NUZ-ZE2 |
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Número de parte futuro | FT-BU52273NUZ-ZE2 |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | - |
BU52273NUZ-ZE2 Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Active |
Función | Omnipolar Switch |
Tecnología | Hall Effect |
Polarización | Either |
Rango de detección | ±5.1mT Trip, ±2.3mT Release |
Condición de prueba | 25°C |
Suministro de voltaje | 1.65V ~ 3.6V |
Corriente - Suministro (Máx.) | 8µA |
Corriente - Salida (Max) | 500µA |
Tipo de salida | CMOS |
Caracteristicas | - |
Temperatura de funcionamiento | -40°C ~ 85°C |
Paquete / Caja | 4-XFDFN Exposed Pad |
Paquete del dispositivo del proveedor | - |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
BU52273NUZ-ZE2 Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | BU52273NUZ-ZE2-FT |
S-5712BCDH2-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5716ACDL2-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5725HCBH1-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5725JCBH0-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACDH1-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACDH2-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACDL1-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACDL2-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACNH1-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACNL1-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
XC7A12T-3CSG325E
Xilinx Inc.
M2GL025-1VF400I
Microsemi Corporation
ICE65L01F-LCB132I
Lattice Semiconductor Corporation
XC7K325T-1FFG900CES9937
Xilinx Inc.
XC7A200T-3FFG1156E
Xilinx Inc.
A42MX24-2PQ160
Microsemi Corporation
LCMXO2-4000HE-5FTG256I
Lattice Semiconductor Corporation
EPF10K50EQI240-2N
Intel
EP4SGX110FF35I3
Intel
EP4SGX290HF35C3
Intel