casa / productos / Circuitos integrados (ICs) / Adquisición de datos - Potenciómetros digitales / AD5112BCPZ10-500R7
Número de pieza del fabricante | AD5112BCPZ10-500R7 |
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Número de parte futuro | FT-AD5112BCPZ10-500R7 |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | - |
AD5112BCPZ10-500R7 Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Active |
Cirio | Linear |
Configuración | Potentiometer |
Número de circuitos | 1 |
Número de grifos | 64 |
Resistencia (Ohms) | 10k |
Interfaz | I²C |
Tipo de memoria | Non-Volatile |
Suministro de voltaje | 1.8V ~ 5.5V, 2.3V ~ 5.5V |
Caracteristicas | - |
Tolerancia | ±8% |
Coeficiente de temperatura (tipo) | 35 ppm/°C |
Resistencia - Limpiaparabrisas (Ohms) (Tipo) | 70 |
Temperatura de funcionamiento | -40°C ~ 125°C |
Paquete / Caja | 8-UFDFN Exposed Pad, CSP |
Paquete del dispositivo del proveedor | 8-LFCSP-UD (2x2) |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
AD5112BCPZ10-500R7 Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | AD5112BCPZ10-500R7-FT |
AD5204BN100
Analog Devices Inc.
AD5204BN50
Analog Devices Inc.
AD5206BN10
Analog Devices Inc.
AD5206BN100
Analog Devices Inc.
AD5206BN50
Analog Devices Inc.
AD8403AN10
Analog Devices Inc.
AD8403AN50
Analog Devices Inc.
AD8402ANZ10
Analog Devices Inc.
AD8402AN10
Analog Devices Inc.
AD5246BKSZ5-RL7
Analog Devices Inc.
A40MX04-VQ80
Microsemi Corporation
LCMXO2-2000ZE-3TG100C
Lattice Semiconductor Corporation
XC2S200-5FG456I
Xilinx Inc.
M1A3P600-PQ208
Microsemi Corporation
EP3C10F256I7
Intel
EP4SGX360KF43I3N
Intel
5SGSMD5H2F35C3N
Intel
10AX090N1F40E1SG
Intel
EP2AGX95EF35C5
Intel
EP1AGX50DF780C6
Intel