casa / productos / Circuitos integrados (ICs) / Adquisición de datos - Potenciómetros digitales / AD5112BCPZ10-500R7
Número de pieza del fabricante | AD5112BCPZ10-500R7 |
---|---|
Número de parte futuro | FT-AD5112BCPZ10-500R7 |
SPQ / MOQ | Contáctenos |
Material de empaque | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | - |
AD5112BCPZ10-500R7 Estado (ciclo de vida) | En stock |
Estado de la pieza | Active |
Cirio | Linear |
Configuración | Potentiometer |
Número de circuitos | 1 |
Número de grifos | 64 |
Resistencia (Ohms) | 10k |
Interfaz | I²C |
Tipo de memoria | Non-Volatile |
Suministro de voltaje | 1.8V ~ 5.5V, 2.3V ~ 5.5V |
Caracteristicas | - |
Tolerancia | ±8% |
Coeficiente de temperatura (tipo) | 35 ppm/°C |
Resistencia - Limpiaparabrisas (Ohms) (Tipo) | 70 |
Temperatura de funcionamiento | -40°C ~ 125°C |
Paquete / Caja | 8-UFDFN Exposed Pad, CSP |
Paquete del dispositivo del proveedor | 8-LFCSP-UD (2x2) |
País de origen | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
AD5112BCPZ10-500R7 Peso | Contáctenos |
Número de pieza de repuesto | AD5112BCPZ10-500R7-FT |
AD5204BN100
Analog Devices Inc.
AD5204BN50
Analog Devices Inc.
AD5206BN10
Analog Devices Inc.
AD5206BN100
Analog Devices Inc.
AD5206BN50
Analog Devices Inc.
AD8403AN10
Analog Devices Inc.
AD8403AN50
Analog Devices Inc.
AD8402ANZ10
Analog Devices Inc.
AD8402AN10
Analog Devices Inc.
AD5246BKSZ5-RL7
Analog Devices Inc.
XC2VP4-5FGG256I
Xilinx Inc.
XC3S1400AN-4FGG676C
Xilinx Inc.
XC4028XL-09HQ304C
Xilinx Inc.
LFE5UM-25F-6BG381C
Lattice Semiconductor Corporation
EP2C8F256C6N
Intel
A3P250-2FGG144
Microsemi Corporation
AGL600V2-FG144I
Microsemi Corporation
LFXP2-5E-6FT256C
Lattice Semiconductor Corporation
EP2AGX65DF29C5
Intel
EP4CE55F29I8LN
Intel